Institute of Information Theory and Automation

Publication details

Thin film description by wavelet coefficients statistics

Journal Article

Boldyš Jiří, Hrach R.


serial: Czechoslovak Journal of Physics vol.55, 1 (2005), p. 55-64

research: CEZ:AV0Z10750506

project(s): 173/2003, GA UK

keywords: thin films, wavelet transform, descriptors, histogram model

preview: Download

abstract (eng):

Descriptive and robust features based on wavelet transform coefficients are proposed for a multiscale thin film image analysis. The features are based on one- and two-dimensional histograms of the wavelet transform coefficients and they can be calculated for every scale of the wavelet decomposition. A one-dimensional histogram model is extended to describe also two-dimensional histograms, by means of calculating marginal histograms and by sampling the two-dimensional histograms in orientation. A computer experiment has been performed to demonstrate correspondence of the derived features to various physical phenomena.

abstract (cze):

V publikaci jsou navrženy robustní a popisné příznaky pro multiškálovou analýzu fotografií tenkých vrstev založené na koeficientech waveletové transformace. Příznaky jsou založeny na jedno- a dvou-rozměrných histogramech koeficientů, které se mohou počítat na každé škále waveletového rozkladu. Model jednorozměrného histogramu je rozšířen pro popis histogramu dvourozměrného, prostřednictvím výpočtu marginálních histogramů a vzorkováním dvourozměrných histogramů v orientaci. Provedli jsme počítačový experiment a demonstrovali korespondenci odvozených příznaků s různými fyzikálními jevy.

RIV: BD

Responsible for information: admin
Last modification: 21.12.2012
Institute of Information Theory and Automation