Ústav teorie informace a automatizace

Jste zde

Bibliografie

Journal Article

Thin film description by wavelet coefficients statistics

Boldyš Jiří, Hrach R.

: Czechoslovak Journal of Physics vol.55, 1 (2005), p. 55-64

: CEZ:AV0Z10750506

: 173/2003, GA UK

: thin films, wavelet transform, descriptors, histogram model

: 10.1007/s10582-005-0007-0

: http://library.utia.cas.cz/separaty/2009/ZOI/boldys-thin film description by wavelet coefficients statistics.pdf

(eng): Descriptive and robust features based on wavelet transform coefficients are proposed for a multiscale thin film image analysis. The features are based on one- and two-dimensional histograms of the wavelet transform coefficients and they can be calculated for every scale of the wavelet decomposition. A one-dimensional histogram model is extended to describe also two-dimensional histograms, by means of calculating marginal histograms and by sampling the two-dimensional histograms in orientation. A computer experiment has been performed to demonstrate correspondence of the derived features to various physical phenomena.

(cze): V publikaci jsou navrženy robustní a popisné příznaky pro multiškálovou analýzu fotografií tenkých vrstev založené na koeficientech waveletové transformace. Příznaky jsou založeny na jedno- a dvou-rozměrných histogramech koeficientů, které se mohou počítat na každé škále waveletového rozkladu. Model jednorozměrného histogramu je rozšířen pro popis histogramu dvourozměrného, prostřednictvím výpočtu marginálních histogramů a vzorkováním dvourozměrných histogramů v orientaci. Provedli jsme počítačový experiment a demonstrovali korespondenci odvozených příznaků s různými fyzikálními jevy.

: BD

07.01.2019 - 08:39